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經濟部標準檢驗局
赴美國Washington DC參加IEEE EMC+SIPI 2017國際研討會心得報告
基本資料
系統識別號: |
C10601292 |
相關專案: |
無 |
計畫名稱: |
參加IEEE EMC+SIPI 2017國際研討會# |
報告名稱: |
赴美國Washington DC參加IEEE EMC+SIPI 2017國際研討會心得報告 |
電子全文檔: |
C10601292_1.pdf
|
附件檔: |
|
報告日期: |
106/10/27 |
報告書頁數: |
46 |
計畫主辦機關資訊
姓名 |
服務機關 |
服務單位 |
職稱 |
官職等 |
陳滄洲 |
經濟部標準檢驗局 |
|
技士 |
其他 |
報告內容摘要
由電機電子工程師學會電磁相容分會(IEEE EMC Society)所舉辦的國際電磁相容研討會(International Symposium on Electromagnetic Compatibility),係為目前世界上最大的電磁相容標準、量測技術、學術整合、以及產業交流的國際性舞台,常年於美國境內舉辦,去(2016)年特別移師到加拿大的首都渥太華舉行,今年的地點則選在美國之華盛頓特區Gaylord National Resort & Convention Center(蓋洛德國家渡假及會議中心)。本次會議共蒐集了將近200篇頂尖論文、數個不同主題的研討會及課程、以及電磁相容技術的現場示範與解說。此外,因過去幾次研討會融入信號與電源完整性(SIPI,Signal and Power Integrity)等主題,深獲好評,會議也開闢相關的專題研討會,供與會的專家學者經驗分享及技術交流,因此,藉由參與研討會的第一手資訊蒐集,可為本局未來在智慧化產業中電磁相容標準、檢測與驗證技術上重要之參考。
其他資料
前往地區: |
美國; |
參訪機關: |
華盛頓特區Gaylord National Resort & Convention Center(蓋洛德國家渡假及會議中心) |
出國類別: |
其他 |
關鍵詞: |
2017,IEEE,EMC,電磁相容,國際研討會 |
備註: |
N/A |
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