配合國家政策之高階醫療器材發展推動，本次國外公差赴美國約翰•霍普金斯大學(The Johns Hopkins university)放射與放射科學部之醫學影像物理組，研習多能階X光放射成像相關技術。本次實習主題有二，第一為學習目前最新之光子計數成像偵檢器(Photon counting detector, PCD)訊號模型化(Modeling)技術，該技術以數值模擬方式評估不同偵檢器性能劣化因子對其輸出訊號影響，可用於協助建立PCD輸出訊號校正補償技術；第二為學習多能階(Multi-energy)電腦斷層影像品質評估技術，利用數值模擬方式量化評估多能階電腦斷層系統各關鍵參數對影像品質的影響，可用於相關技術開發之先期效能評估與後期參數最佳化作業。 此行學習多能階X光放射成像與影像定量新技術，可協助提升材質分解(Material decomposition)的能力，提升放射影像診斷的價值，且不僅包含醫學相關應用，亦可應用於工業檢測或反恐安檢等領域。