法務部調查局
赴美國國際測謊學校研習測謊鑑識技術出國報告
基本資料
系統識別號: |
C10501200 |
相關專案: |
無 |
計畫名稱: |
派員赴國際測謊學校研習測謊鑑識技術# |
報告名稱: |
赴美國國際測謊學校研習測謊鑑識技術出國報告 |
電子全文檔: |
C10501200_1.pdf
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附件檔: |
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報告日期: |
104/10/21 |
報告書頁數: |
27 |
計畫主辦機關資訊
姓名 |
服務機關 |
服務單位 |
職稱 |
官職等 |
耿良才 |
法務部調查局 |
鑑識科學處 |
調查官 |
薦任 |
黃順聰 |
法務部調查局 |
鑑識科學處 |
調查官 |
薦任 |
報告內容摘要
本次奉派赴美國研習測謊鑑識技術,主要目的係為增進測謊技術國際化,研習最新的測謊技術;並與該測謊學校「American International Institute of Polygraph,下稱AIIP」的主持人Charles E. Slupski研討國內測謊鑑識研討會舉辦之細節,俾便於本(104)年8月3日至8日舉辦之測謊鑑識會議如期舉行。
該測謊學校位於美國喬治亞州亞特蘭大市近郊,為美國測謊協會(American Polygraph Association,APA)及美國警察測謊人員協會(American Association of Police Polygraphists,AAPP)認可之學校,所有課程安排與學員結業之認證均遵守該等協會規定,課程內容包含:測謊之歷史、測謊儀器操作、測謊基本測題介紹、測謊編題技術、生理學、心理學、圖譜分析及人工計分、測前會談、測後會談、法律學、測謊抗制之對策等。
此行赴美研習測謊技術期間為70天,除了上課之外,其餘時間多與美國警方交流測謊技術,以藉他山之石做為我國測謊技術之參考。
本文主要作測謊概述外,另同時介紹美國測謊業界最新使用之測謊技術與最新之評分技巧,借以提供國內有志從事測謊人員研究、參考之用。
其他資料
前往地區: |
美國; |
參訪機關: |
無 |
出國類別: |
進修 |
關鍵詞: |
圖譜分析,人工計分,測前會談,測後會談,測謊抗制之對策 |
備註: |
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