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法務部調查局

赴美國國際測謊學校研習測謊鑑識技術出國報告

基本資料

系統識別號: C10501200
相關專案:
計畫名稱: 派員赴國際測謊學校研習測謊鑑識技術#
報告名稱: 赴美國國際測謊學校研習測謊鑑識技術出國報告
電子全文檔: C10501200_1.pdf
附件檔:
報告日期: 104/10/21
報告書頁數: 27

計畫主辦機關資訊

計畫主辦機關: 法務部調查局 http://www.mjib.gov.tw
出國期間: 104/05/15 至 104/07/27
姓名 服務機關 服務單位 職稱 官職等
耿良才 法務部調查局 鑑識科學處 調查官 薦任
黃順聰 法務部調查局 鑑識科學處 調查官 薦任

報告內容摘要

本次奉派赴美國研習測謊鑑識技術,主要目的係為增進測謊技術國際化,研習最新的測謊技術;並與該測謊學校「American International Institute of Polygraph,下稱AIIP」的主持人Charles E. Slupski研討國內測謊鑑識研討會舉辦之細節,俾便於本(104)年8月3日至8日舉辦之測謊鑑識會議如期舉行。 該測謊學校位於美國喬治亞州亞特蘭大市近郊,為美國測謊協會(American Polygraph Association,APA)及美國警察測謊人員協會(American Association of Police Polygraphists,AAPP)認可之學校,所有課程安排與學員結業之認證均遵守該等協會規定,課程內容包含:測謊之歷史、測謊儀器操作、測謊基本測題介紹、測謊編題技術、生理學、心理學、圖譜分析及人工計分、測前會談、測後會談、法律學、測謊抗制之對策等。 此行赴美研習測謊技術期間為70天,除了上課之外,其餘時間多與美國警方交流測謊技術,以藉他山之石做為我國測謊技術之參考。 本文主要作測謊概述外,另同時介紹美國測謊業界最新使用之測謊技術與最新之評分技巧,借以提供國內有志從事測謊人員研究、參考之用。

其他資料

前往地區: 美國;
參訪機關:
出國類別: 進修
關鍵詞: 圖譜分析,人工計分,測前會談,測後會談,測謊抗制之對策
備註:

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主題分類: 法務
施政分類: 科技鑑識
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