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內政部警政署刑事警察局
114年派赴美國參加第109屆IAI國際鑑定年會及參訪西賓夕法尼亞大學、匹茲堡刑事鑑識單位
基本資料
| 系統識別號： |
C11402124 |
| 相關專案： |
無 |
| 計畫名稱： |
參加IAI國際鑑定年會# |
| 報告名稱： |
114年派赴美國參加第109屆IAI國際鑑定年會及參訪西賓夕法尼亞大學、匹茲堡刑事鑑識單位 |
| 電子全文檔： |
C11402124_1.pdf
|
| 附件檔： |
|
| 報告日期： |
114/10/23 |
| 報告書頁數： |
29 |
計畫主辦機關資訊
| 計畫主辦機關： |
內政部警政署刑事警察局
|
| 出國期間： |
114/08/08 至 114/08/22 |
| 姓名 |
服務機關 |
服務單位 |
職稱 |
官職等 |
| 鄧宏聖 |
內政部警政署刑事警察局 |
指紋科 |
巡官 |
薦任 |
| 陳穩中 |
內政部警政署刑事警察局 |
理化科 |
警務正 |
薦任 |
報告內容摘要
國際鑑定年會IAI (International Associaiton for Identification) 已是目前全球鑑識科學領域最具盛名的組織之一。本次前往美國佛羅里達州奧蘭多，參加第109屆IAI國際鑑定年會中專題演講與實作課程，內容涵蓋指紋比對軟體使用、指紋比對技巧、指紋採證技巧、十指紋比對基礎原理與實作、指紋方向判斷、紋線流向判斷、錯誤判決案例、法庭證言等。
年會結束後，前往賓州匹茲堡西賓夕法尼亞大學(Pennsylvania Western University)，以圓桌會議的方式與該校刑事司法學系的院長、教授們討論人工智慧與鑑識科學的應用。最後參觀賓州匹茲堡亞利加尼郡法醫辦公室，實地觀摩實驗室
其他資料
| 前往地區： |
美國; |
| 參訪機關： |
西賓夕法尼亞大學，匹茲堡刑事鑑識單位 |
| 出國類別： |
研究 |
| 關鍵詞： |
國際鑑定年會IAI，CSIpix，MBIS，指紋 |
| 備註： |
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